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首頁(yè)工廠實(shí)景 晶振匹配測(cè)試

晶振匹配測(cè)試

來(lái)源:http://www.diker.cn 作者:金洛鑫電子 2019年05月25
   哪怕是高品質(zhì)的晶振,在使用過(guò)程中多多少少都會(huì)遇到一些問(wèn)題,解決的方法第一步就是找到問(wèn)題的根源。導(dǎo)致晶振用不了的原因有很多,例如質(zhì)量差,操作不當(dāng)或者匹配不正確等。許多工程并不是很懂如何去匹配晶振電路,接下來(lái)金洛鑫電子會(huì)提供相關(guān)的方法,請(qǐng)仔細(xì)閱讀內(nèi)容。
   如果由于石英晶體/石英晶體振蕩器不合適而系統(tǒng)運(yùn)行不正常,或者頻率偏差超出規(guī)范,匹配測(cè)試是解決這些問(wèn)題的有效方法。
A.振蕩電路的測(cè)試方法
   1.振蕩頻率的測(cè)量
PPCS1.jpg
   2.驅(qū)動(dòng)電平的測(cè)量
   驅(qū)動(dòng)電平等于工作晶體消耗的功率。如下圖所示,用電流探頭測(cè)量流入諧振器的電流(Ix)。
   功率(驅(qū)動(dòng)電平)的計(jì)算公式:
   DL(功率)=(Ix)²xRe;其中Ix:有效當(dāng)前值(rms),
   Re:有效電阻,Re=R1x(1+C0/CL)²,R1:串聯(lián)電阻
PPCS2.jpg
3.負(fù)阻測(cè)量
   負(fù)阻計(jì)算公式(-R):
   |-R|=VR+Re,Re=R1x(1+C0/CL)²,R1:串聯(lián)電阻
PPCS2.jpg
   負(fù)阻用于確定振蕩電路的振蕩裕度并預(yù)測(cè)振蕩的穩(wěn)定性。如下圖所示,將可變電阻器(VR)與晶體串聯(lián),然后逐漸增加電阻。晶振將以一定的值振蕩。
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